Для получения фото атомов обычно применяют сканирующие туннельные микроскопы, которые используют специальный зонд, подаваемый на образец в форме тонкой иглы с зарядом. Недавно, учёными Университета Огайо был разработан новый метод, в котором образец освещается узким рентгеновским лучом. В этом методе к обычному детектору добавляется тонкая игла из металла, находящаяся рядом с образцом.
Когда рентгеновские фотоны воздействуют на атомы, электроны в нём переходят в возбужденное состояние, перемещаясь на более высокие орбитали. Это изменение состояния электронов сказывается на токе, который проходит от образца к игле. Энергия электронов и их местоположение на орбиталях зависят от состояния атома, а также от поглощенных ими фотонов разных длин волн. Благодаря этому методу можно не только визуализировать атомы, но и определить их химическое состояние.
Исследователи применили новый метод SX-STM в экспериментах с ионами железа и тербия.
По материалам портала Nature.